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电容专用高低温试验箱

铝电解电容高低温试验箱

铝电解电容高低温试验箱

 铝电解电容高低温试验箱

铝电解电容高低温试验箱

★、冗余设计是提髙设备系统可靠性的一种设计技术,特别是对于大中型设备,如电子计算机、雷达、多路通信等都是行之有效的方法。冗余设计通常是通过增加并联单元的数童,把一个或几个替换通道安排在一个系统内实现的。冗余设计的目的是为了完成规定的功能而额外附加所需的装置或手段,即使系统中某一部分出现了故障,系统仍能正常工作。特别是当元器件质量与可靠性水平比较低,采用一般的设计已经无法满足设备系统设计可靠性的要求时,冗余设计有特别重要的意义,它可以使系统满足预期的可靠性要求。如果单纯地从逻辑结构看,冗余的部分是多余的。但通过计算能发现,它能提高被冗余部分的可靠性。经证明,在我国成功地发射卫星、导弹的过程,雷达系统及电子计算机系统中以及工业自动化设备中,冗余设计技术都已经发挥了重大的作用。在当前元器件可靠性水平的基础上,某些有3~4万只元器件的雷达设备由于采用了冗余设计技术,平均无故障X作时间已达到200-400 h,国外某些雷达和电子计算机系统,尽管元器件数高达100多万只,由于采用冗余设计技术,使其平均无故障工作时间(MTBF)达到1 000 h左右。可见冗余设计技术是提高和保证设备可靠性达到预期要求的一项很重要的技术措施。

★、当然,采用冗余设计会增加重量、体积、复杂度、费用及设计时间等。必须根据所研制设备的特点,对有关的利弊关系进行仔细的分析后确定是否采用冗余设计技术。当提高可靠性的其他方法已经用尽,或当元器件可靠性改进的成本髙于使用冗余技术时,冗余技术才是有用的方法。

铝电解电容高低温试验箱满足标准:

★、MIL-STD810D方法502.2;

★、GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;  

★、GB/T10589-1989低温试验箱技术条件;            

★、GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件;          

★、GB2423.1-89低温试验Aa,Ab ;     

★、IEC68-2-1 试验A

铝电解电容高低温试验箱降温方式;液态氮喷射.

★、控制稳定度;±0.5℃.

★、分布均匀度;±1.5℃.

★、温度偏差;≤±2℃.

铝电解电容高低温试验箱参数规格:

★、铝电解电容高低温试验箱升降温速率;

3℃/分, 5℃/分, 8℃/分, 10℃/分, 15℃/分,20℃/分线性降温或非线性平均.

★、非线性时最大可达30℃/分钟,若需特殊规格请洽询本公司.

★、铝电解电容高低温试验箱温度范围;

-70 ~150℃(KS),  -40~150℃(KL),  -20~150℃(KR).

★、铝电解电容高低温试验箱快温变范围;

-70℃机型:-50 ~+85℃(KS),  -40℃机型-20~+85℃(KL),  -20℃机型: 0~+85℃(KR).

铝电解电容高低温试验箱

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