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常规筛选方法

来源:正航仪器  日期:2014-11-20

常规筛选方法
⑴ 检查筛选
目检筛选和镜检筛选是集成电路重要的筛选方法。这种方法简单而有效,对检查芯片表面的各类缺陷,观察内部引线键合、芯片焊接、封装缺陷等都十分有效。镜检主要有光学显微镜、扫描声学显微镜和扫描电子显微镜,其他还有X射线和红外显微镜等筛选技术。
⑵ 功率老化筛选
功率老化通过对产品施加过电应力,促使早期失效器件存在的潜在缺陷尽快暴露而被剔除,它能有效地剔除元器件生产过程中产生的工艺缺陷,金属化膜过薄及划伤等。它可以分为直流偏压和脉冲功率老化。
⑶ 密封性筛选
密封筛选是检查芯片内部是否有封装时残留的气氛或由于密封性不良而渗透的水汽。它可以分为气泡筛选、浸液检漏筛选、氦质谱仪检漏筛选和放射性筛选等。
⑷ 环境应力筛选
“环境应力筛选是通过对产品施加合理的环境应力,将其内部的潜在缺陷加速变成故障,并通过检验发现和排除的过程[12]”。目前,环境应力筛选是国内外使用广泛、较有效的一种筛选方法。

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