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高加速寿命试验(HALT)和加速寿命试验(ALT)

来源:正航仪器  日期:2014-11-17

高加速寿命试验(HALT)和加速寿命试验(ALT)
 
高加速寿命试验(HALT)和加速寿命试验(ALT)
  
高加速寿命试验(HALT)和加速寿命试验(ALT) 是产品可靠性设计中运用的较有效的两种可靠性试验技术。高加速寿命试验适合用于发现设计缺陷,确定失效机理,描述产品裕度。当主要失效机理不是由于耗损原因引起时,用高加速寿命试验。而加速寿命试验适用于描述由磨损造成的失效机理,通常用来检验机构在超出用户预期和超出担保期的情况下产生的失效情况。
1)高加速寿命试验
高加速寿命试验是在极短的时间内(通常是几小时或几天),对产品施加步进应力,直到产品失效,找出设计缺陷,并加以改进,以提高产品可靠性的试验过程。高加速寿命试验适用于发现设计缺陷,通常用于整个系统,但也可用于部件。当产品存在耗损机理时,不采用高加速寿命试验。高加速寿命试验用于揭示产品设计和零件选择中的潜在缺陷,而这些缺陷通过传统的鉴定试验方法却难以发现。该过程是将对手试产品施加步进应力,包括环境应力(如温度和振动)、电应力(如电压极限和载荷变化)以及这些应力的组合,激发内在缺陷。而且,高加速寿命试验着力于使产品达到失效,以便评定超出其计划使用范围的设计健壮性和超过规定工作极限的设计裕度。 
    高加速寿命试验的一个基本组成部分是根因分析,以及为确保产品完整性的纠正措施的确定和执行,从而提高产品的可靠性和设计健壮性。只有发现和确定了产品的薄弱环节,我们才能达到提高裕度的目的。根因分析也许是高加速寿命试验较复杂的一个环节,因为为了确定产品在试验中暴露出的潜在问题,接着需要分析这些问题在现场使用中是否会发生或是它仅仅是由于试验过程中超出了产品技术要求或改变了失效机理而已。做出这种决定要求具备预先规划和产品知识 、经验和较好的根因分析技能。通常我们认为,试验中出现的失效是非关联的,因为我们的试验确实改变了失效机理。这种试验通常是加速寿命试验的被选试验。

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